MICROSCOPI ELETTRONICI IN TRASMISSIONE (TEM)

 

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TEM lab.0C38TEM 0C32-0C33 Marca/Modello: Hitachi H-7000 con camera CCD AMT XR-41

Anno di acquisto: 2010

Ubicazione: laboratorio di microscopia elettronica in trasmissione 0C38 

 

 

Marca/Modello: JEOL JEM 200 CX

Anno di acquisto: 1991

Ubicazione: laboratorio di microscopia elettronica in trasmissione 0C32-0C33

 

Descrizione: la Microscopia Elettronica a Trasmissione  permette di ottenere, da un campione sufficientemente assottigliato (< 0.1 micron), immagini ad elevata risoluzione (1.92 Å) prodotte da elettroni ad alta energia incidenti sul campione. Trova applicazione nella scienza dei materiali per lo studio morfologico e la caratterizzazione di microfasi, interfacce, polveri e anche in campo biologico. Informazioni ottenibili col TEM:

  • Topografia Caratteristiche superficiali di un oggetto e la sua “tessitura”;
  • Morfologia Forma e dimensione di particelle che costituiscono un oggetto;
  • Informazioni cristallografiche (diffrazione elettronica)  Fasi cristalline e amorfe; tipi di reticolo
  • Composizione (radiazioni secondarie)  Elementi e composti di cui l’oggetto è costituito e loro quantità relative.

Si può lavorare in campo chiaro e in campo scuro: campo chiaro: consente di osservare la morfologia dei campioni come contrasto di immagine; campo scuro: consente di osservare micro e nano cristalli presenti nei campioni come contrasto di fase.

Inoltre è possibile determinare la dimensione media delle particelle in sistemi nano dimensionati e la distribuzione delle dimensioni.

 

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TEM lab.0C38TEM 0C32-0C33 Brand/Model: Hitachi H-7000 and CCD AMT XR-41 camera

Year of purchase: 2010

Laboratory: electronic microscopy 0C38

 

 

 

Brand/Model: JEOL JEM 200 CX

Year of purchase: 1991

Laboratory: electronic microscopy 0C32-0C33

Description: transmission electron microscopy is a technique in which a beam of electrons is transmitted through an ultra-thin specimen (< 0.1 micron) and high resolution images (1.92 Å) may be obtained.

It finds application in materials science for the morphological study and the characterization of microphases, interfaces, powders and also in the field of biology.

Informations:

  • Topography: surface characteristics of an object and its “texture”;
  • Morphology: shape and size of particles that constitute an object;
  • Crystallographic information: (electronic diffraction)  amorphous and crystalline phases; types of lattice
  • Composition (secondary radiation)  Elements and compounds of which the object is formed and their relative amounts.

Brightfield: morphology of the samples as image contrast;

Darkfield: micro and nano crystals present in the samples as phase contrast.

It is possible to determine the average size of the particles in systems nano sized and the size distribution.

 

 

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